芯片級(jí)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)

我公司能提供滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)要求的芯片級(jí)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)的全套解決方案，歡迎來(lái)電咨詢(xún)。

一、IEC 61967系列標(biāo)準(zhǔn)為電磁發(fā)射測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)，包括如下9項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)：

    IEC 61967-1: 通用條件和定義

    IEC 61967-1-1:通用條件和定義-近場(chǎng)掃描數(shù)據(jù)交換格式

    IEC 61967-2:輻射發(fā)射測(cè)量-TEM小室和寬帶TEM小室法

    IEC 61967-3:輻射發(fā)射測(cè)量-表面掃描法

    IEC 61967-4: 傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量-1Ω/150Ω直接耦合法

    IEC 61967-4-1:傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量-1Ω/150Ω直接耦合法和應(yīng)用指南

    IEC 61967-5:傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量-法拉第籠法WFC

    IEC 61967-6:傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量-磁場(chǎng)探頭法

    IEC 61967-8:輻射發(fā)射測(cè)量-帶狀線法

二、IEC 62132系列標(biāo)準(zhǔn)為電磁抗擾度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)，包括如下7項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)：

    IEC 62132-1: 通用條件和定義

    IEC 62132-2: 輻射抗擾測(cè)量-TEM室和GTEM室法

    IEC 62132-3: 大電流注入法BCI

    IEC 62132-4: 射頻功率直接注入法

    IEC 62132-5: 法拉第籠法WFC

    IEC 62132-8:輻射抗擾測(cè)量-帶狀線法

    IEC 62132-9:輻射抗擾測(cè)量-表面掃描法

    三、IEC 62215系列標(biāo)準(zhǔn)為脈沖抗擾度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)，包括如下2項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)：

    IEC 62215-2:同步瞬態(tài)注入法

    IEC 62215-3:非同步瞬態(tài)注入法